"Патентоп" – информация из открытых реестров Роспатента

«Тестовая оценочная схема, содержащая набор базовых элементов и генераторных ФБ, предназначенная для апробации методик идентификации параметров моделей библиотеки SiGe БиКМОП технологического процесса»

Статус
Актуально
Название
«Тестовая оценочная схема, содержащая набор базовых элементов и генераторных ФБ, предназначенная для апробации методик идентификации параметров моделей библиотеки SiGe БиКМОП технологического процесса»
Регистрационный номер
2019630003
Дата регистрации
9 января 2019 года
Дата истечения срока действия
9 января 2029 года
Авторы
Правообладатели
федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования «Национальный исследовательский ядерный университет «МИФИ» (НИЯУ МИФИ)
Дата подачи заявки
14 декабря 2018 года
Номер заявки
2018630244
Дата публикации
10 января 2019 года
Номер публикации
1

Ссылка на источник в ФИПС
www1.fips.ru/fips_servl/fips_servlet?DB=TIMS&DocNumber=2019630003
Информация получена из открытого реестра топологий интегральных микросхем
и актуальна на 26 декабря 2019 года.

Смотрите также